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        FT-NIR(傅立葉變換近紅外)光譜儀 NIRFlex N-500

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        儀器名稱 FT-NIR(傅立葉變換近紅外)光譜儀 NIRFlex N-500
        英文名稱 NIRFlex N-500
        國產/進口 進口
        產地/品牌 瑞士步琪(Buchi)
        型號 NIRFlex N-500
        參考報價 電詢
        銷售商 成都東方銳進科技有限公司

        FT-NIR(傅立葉變換近紅外)光譜儀 NIRFlex N-500
        【性能參數】


        一.NIR 光譜學的完全模塊化

        步琦 NIRFlex N-500 是為使用各種測量元件的應用而設計的。測量元件能在一個很短的時間內快速更換以適應特定的應用。每一個個體的測量元件都已得到精確的優化,以適應您個人的應用。

         

        二.優點

        1.步琦 NIRFlex N-500 及其附件的重要優勢在于它具有安全而不間斷的性能。

        2.牢固的設計:特別設計的偏振干涉儀不會受到機械擾動的影響。這使得它成為工業運用的最佳選擇。

        3.全面的組件:模塊化設計組成了基本單位和載體,加上各種測量選項能使個別配置滿足特定的要求。有可能在幾秒鐘內改變測量選擇。

        4.無須停工:即使在燈出故障的情況下,雙燈模塊能防止停機。

        5.減少維修成本:客戶可自行調換其電燈和激光器,減少維修成本。

        6.內置整合:在生命周期模型的基礎上,智能的遵守制藥工業的條例。這意味著:在沒有任何成本的情況下滿足法律條例。

        7.隨時投入使用:預定標便于 NIR 技術在食品和飼料工業中的常規應用。

        8.可追溯的程序和數據:所有的 NIRWare NIRCal 數據都被嚴格的保存在數據庫中。

        9.自動測量:當自動調溫器將房間的溫度調至65°C 時,它小巧的自動取樣器能在透射比模式下對液體進行測量。

        10.直接在倉庫進行測量:可使用光纖探針直接在樣品袋或容器內對樣品在貨物接收時進行測量。

         

        三.使用 FT-NIR 光譜的理由

        多年來,人們已經證明,FT-NIR 是用于制藥、化工業及食品、飼料加工廠日常檢查的理想工具。NIRSolutions 已經在數百種應用中得到成功使用。

        與傳統的濕法化學相比,NIR 光譜法的優點

        • 多功能性可以同時測定幾種參數
        • 快速可在數秒內獲得測定結果
        • 簡單用戶友好的日常測定
        • 經濟降低操作費用
        • 環境有益沒有廢化學試劑
        • 安全不發生化學反應
        • 高效每個時間單元內可對一批進行更多分析

        與傳統 NIR 儀器相比,FT-NIR 技術的優點

        • 信息量經典過濾器裝置僅采用幾種選擇波長進行操作。而 NIRFlex N-500 覆蓋的波長范圍為 1000-2500 nm,同時,對您的樣品分析具有最佳分辨率
        • 快速同時測定所有頻率,同一時刻到達檢測器。優點:高光通量,信噪比改善
        • 高精度和可重現性使用 HeNe 激光信號,通過抽樣干涉儀來保證波長準確度。這確保了各儀器之間的校驗轉換
        • 應用范圍無限采用同一臺儀器,可對范圍廣泛的多種樣品進行測定

        四.偏振干涉儀

        具有卓越性能、獨特而牢固的晶體干涉儀


        步琦偏振干涉儀

        通過采用折光率非常高的晶體,步琪已經改造了成功的石英偏振干涉儀。這樣可以得到最佳分辨率及緊湊型設計,同時保持了對機械干擾不敏感的優點。

        由于不同厚度雙折射晶體內兩個光束的空間移動和光程偏移的差別,此干涉儀在苛刻環境中具有卓越的性能。而在 Michelson 型干涉儀中,機械變形直接影響干涉,在晶體干涉儀中,這種影響降低了 10-20 倍。

        最佳分辨率

        由于在液體樣品及固體樣品時,NIR 吸收譜帶相對較寬,分辨率超過 8 cm-1 不再能夠改進 NIR 應用的性能。相反:在給定的測定時間內,采用比固有寬度更高的分辨率,數據收集將得到更差的信噪比。

        此外,數據組不必要地變得很大。因此,可以保持偏振干涉儀設計,以獲得最佳分辨率、結構非常緊湊,而同時不失其固有的堅固優勢。

        偏振干涉儀的原理

        當光射到各向異性的晶體上時,它被分成兩部分。這兩束光彼此垂直偏振,以不同的相速度穿過晶體。干涉儀的中心是兩塊菱鏡,它們一起構成一個長方體。前面 45° 偏振的光一進入晶體,兩個分光束就以不同的速度穿過晶體。

        結果,它們相對于彼此經歷了相移,通過相對于另一塊菱鏡移動一塊菱鏡,相移對稱變化。這改變了合光束的偏振。因此,在第二個偏振器后,觀察到了單色光的正弦輻射變化。幾個頻率的輻射導致不同正弦波相疊加:形成干涉圖。




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